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　　材料成分分析

　　成分分析根據(jù)分析對象和要求可分為微量樣品分析和微量成分分析兩種。根據(jù)分析目的不同，可分為塊體元素成分分析、表面成分分析和微區(qū)成分分析三種方法。

　　大宗元素成分分析是指大宗元素成分和雜質(zhì)成分的分析，其方法有原子吸收、原子發(fā)射ICP、質(zhì)譜、X射線熒光、X射線衍射分析等。前三種分析方法在測定前需要溶解樣品。所以屬于破壞性樣品分析法，而X射線熒光和衍射分析法可以直接測量固體樣品，所以也叫非破壞性元素分析法。

　　表面和微區(qū)成分分析

　　x射線光電子能譜(XPS)(10納米，表面)；

　　俄歇電子能譜(AES)(6納米，表面)；

　　二次離子質(zhì)譜(SIMS)(微米，表面)；

　　電子探針分析法(0.5微米，體相)；

　　電子顯微鏡能譜分析(1微米，體相)；

　　用電子顯微鏡(0.5 nm)進(jìn)行電子能量損失譜分析；

　　為此，根據(jù)分析方法的不同，成分分析可分為光譜分析、質(zhì)譜分析和能譜分析。

　　形態(tài)學(xué)分析

　　形貌分析的主要內(nèi)容是分析形貌微區(qū)的幾何形貌、粒度、粒度分布、成分和相結(jié)構(gòu)等。

　　形態(tài)分析方法主要包括:

　　光學(xué)顯微鏡(OM)、掃描電子顯微鏡(SEM)、透射電子顯微鏡(TEM)、掃描隧道顯微鏡(STM)和原子力顯微鏡(AFM)。

　　相位結(jié)構(gòu)分析

　　常用的相分析方法包括X射線衍射分析、激光拉曼分析、傅立葉紅外分析和微區(qū)電子衍射分析；

　　x射線衍射

　　XRD物相分析是基于多晶樣品對X射線的衍射效應(yīng)，分析樣品中各組分的存在形式。結(jié)晶、晶相、晶體結(jié)構(gòu)和結(jié)合狀態(tài)等的測定。可以確定各種晶體成分的結(jié)構(gòu)和含量。

　　由于其靈敏度較低，只能測定樣品中含量超過1%的相。同時，定量測定的準(zhǔn)確度不高，一般在1%的量級；

　　XRD物相分析需要大量的樣品(0.1g)才能得到準(zhǔn)確的結(jié)果，但無定形樣品無法分析。

　　x射線衍射分析主要用于:

　　XRD定性分析、定量分析、晶粒大小的測定、介孔結(jié)構(gòu)的測定(小角X射線衍射)、多層膜分析(小角XRD法)、物質(zhì)狀態(tài)的鑒定(晶態(tài)與非晶態(tài)的區(qū)分)。