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　　材料成分分析

　　成分分析根據分析對象和要求可分為微量樣品分析和微量成分分析兩種。根據分析目的不同，可分為塊體元素成分分析、表面成分分析和微區成分分析三種方法。

　　大宗元素成分分析是指大宗元素成分和雜質成分的分析，其方法有原子吸收、原子發射ICP、質譜、X射線熒光、X射線衍射分析等。前三種分析方法在測定前需要溶解樣品。所以屬于破壞性樣品分析法，而X射線熒光和衍射分析法可以直接測量固體樣品，所以也叫非破壞性元素分析法。

　　表面和微區成分分析

　　x射線光電子能譜(XPS)(10納米，表面)；

　　俄歇電子能譜(AES)(6納米，表面)；

　　二次離子質譜(SIMS)(微米，表面)；

　　電子探針分析法(0.5微米，體相)；

　　電子顯微鏡能譜分析(1微米，體相)；

　　用電子顯微鏡(0.5 nm)進行電子能量損失譜分析；

　　為此，根據分析方法的不同，成分分析可分為光譜分析、質譜分析和能譜分析。

　　形態學分析

　　形貌分析的主要內容是分析形貌微區的幾何形貌、粒度、粒度分布、成分和相結構等。

　　形態分析方法主要包括:

　　光學顯微鏡(OM)、掃描電子顯微鏡(SEM)、透射電子顯微鏡(TEM)、掃描隧道顯微鏡(STM)和原子力顯微鏡(AFM)。

　　相位結構分析

　　常用的相分析方法包括X射線衍射分析、激光拉曼分析、傅立葉紅外分析和微區電子衍射分析；

　　x射線衍射

　　XRD物相分析是基于多晶樣品對X射線的衍射效應，分析樣品中各組分的存在形式。結晶、晶相、晶體結構和結合狀態等的測定。可以確定各種晶體成分的結構和含量。

　　由于其靈敏度較低，只能測定樣品中含量超過1%的相。同時，定量測定的準確度不高，一般在1%的量級；

　　XRD物相分析需要大量的樣品(0.1g)才能得到準確的結果，但無定形樣品無法分析。

　　x射線衍射分析主要用于:

　　XRD定性分析、定量分析、晶粒大小的測定、介孔結構的測定(小角X射線衍射)、多層膜分析(小角XRD法)、物質狀態的鑒定(晶態與非晶態的區分)。