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　　成分分析按照結(jié)論來區(qū)分，可分為：定性結(jié)果——通過成分分析的手段得出被測物中主要包括的成分，概況的來說就是確定物質(zhì)的組分；定量結(jié)果——在確定被測物的定性組分之后，進行相應(yīng)的定量分析，得出各種組分的分配比例。

　　表征與測試技術(shù)是科學(xué)鑒別材料、認識其多樣化結(jié)構(gòu)、評價其特殊性能的根本途徑。材料表征的主要目的是確定材料的一些物理化學(xué)特性如形貌、尺寸、粒徑、化學(xué)組成、晶型結(jié)構(gòu)、禁帶寬度和吸光特性等。材料成份的分析對于物質(zhì)性質(zhì)和表征非常重要，能譜可用于材料的表面成份分析。常用的能譜分析包括X射線能譜分析（EDS）與X射線光電子能譜分析（XPS）。

　　X射線能譜分析（EDS）與X射線光電子能譜分析（XPS）簡介

　　X射線能譜分析（EDS）的原理是各種元素具有自己的X射線特征波長，特征波長的大小則取決于能級躍遷過程中釋放出的特征能量?E，能譜儀就是利用不同元素X射線光子特征能量不同這一特點來進行成份分析的，其用來對材料微區(qū)成份元素種類與含量進行分析，配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡使用。

　　X射線光電子能譜分析（XPS）的原理是用X射線去輻射樣品，使原子或分子的內(nèi)層電子或價電子受激發(fā)射出來。被光子激發(fā)出來的電子稱為光電子。可以測量光電子的能量，以光電子的動能/束縛能（binding energy）為橫坐標(biāo)，相對強度（脈沖/s）為縱坐標(biāo)可做出光電子能譜圖，從而獲得試樣有關(guān)信息。X射線光電子能譜為化學(xué)研究提供分子結(jié)構(gòu)和原子價態(tài)方面的信息，還能為電子材料研究提供各種化合物的元素組成和含量、化學(xué)狀態(tài)、分子結(jié)構(gòu)、化學(xué)鍵方面的信息因此對化學(xué)分析最有用，被稱為化學(xué)分析用電子能譜（Electron Spectroscopy for Chemical Analysis）。